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Caratterizzazione dei nanomateriali

DOI 10.12910/EAI2015-030

A. Montone, A. Aurora, G. Di Girolamo

Contact person: Annalisa Aurora -

Il presente lavoro riporta una panoramica delle principali tecniche adottate per la caratterizzazione dei nanomateriali. La conoscenza di alcune caratteristiche basilari, inerenti la morfologia, la microstruttura, la distribuzione di fase e la composizione chimica, è essenziale per valutare le proprietà funzionali dei nanomateriali e di fare delle previsioni riguardo al loro comportamento in esercizio. Per la caratterizzazione dei nanomateriali possono essere impiegate sia tecniche di imaging sia tecniche analitiche. Fra le prime trovano larga applicazione la microscopia ottica, la microscopia elettronica a scansione (SEM) e la microscopia elettronica in trasmissione (TEM). Fra le seconde alcuni tipi di spettroscopia e la Diffrazione a raggi X (XRD). Per ogni tipologia di materiale da caratterizzare la scelta della tecnica più appropriata è basata sulla tipologia dei dettagli che si vogliono ricavare e sulla loro scala. Nel presente lavoro sono discussi in dettaglio alcuni esempi e i principali metodi utilizzati per la caratterizzazione dei nanomateriali

Characterization of nanomaterials

This work presents an overview of the most common techniques adopted for advanced characterization of nanostructured materials. The knowledge of any basic features concerning morphology, microstructure, phase distribution and chemical composition, is an essential key factor in order to evaluate their functional properties and to make prediction about their in-service behaviour. Both imaging and analytical techniques can be properly employed such as optical microscopy, Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM), some kind of spectroscopy and X-Ray Diffraction (XRD). For each material the selection of the most appropriate characterization technique is based on the details the investigators want to obtain as well as on their scale. Some case studies and procedures followed to analyze various nanostructured materials are herein discussed 

Amelia Montone, Annalisa Aurora, Giovanni Di Girolamo - ENEA, Unità Tecnica Tecnologie dei Materiali

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